菲希尔X射线测厚仪XLUM

菲希尔X射线测厚仪XLUM

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XLUM为了使每次测量都能在理想的条件下进行，XDV-μ 配备了各种可电动切换的基本滤片。*的硅漂移接收器能够达到很高的分析精度及探测灵敏度。由于采用了开创性的多毛细管 X 射线光学系统设计，本款仪器能在极其微小的测量面积上产生非常高的激发强度。

菲希尔X射线测厚仪出色的准确性及长期的稳定性是 FISCHER X 射线仪器的共有特点，因此也大大减少了重新校准仪器的需要，为您节省时间和精力。

菲希尔X射线测厚仪由于采用了 FISCHER 的基本参数法，无论是镀层系统还是固体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。

仪器可以选配一个大面积的工作台，用以配合对大型印制电路板进行测量。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ菲希尔X射线测厚仪是一款界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台和马达驱动的 Z 轴升降台。侧面开槽的设计，可测量面积更大的工件，如印制电路板等。当外保护面罩开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。

通过激光点，可以快速对准需要测量的位置。仪器内置高分辨率彩色摄像头，简化了对测量点进行精确对位的过程。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM®软件在电脑上完成。

最多可同时测定从铝（13）到铀（92）中的24 种元素

测量门向上开启的台式仪器，侧面开槽设计。

马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台

马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

配备三挡高压和4个可切换的基本滤片。