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菲希尔X射线测厚仪镀金层仪器

菲希尔X射线测厚仪镀金层仪器

简要描述:
菲希尔X射线测厚仪镀金层仪器,Fischerscope X-ray,菲希尔镀层测厚仪。

更新时间:2023-12-25

访问量:199

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,综合

菲希尔X射线测厚仪镀金层仪器

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ特点

功能强大的高级型号,用于最小结构和小于 0.1 µm 的最薄涂层的精确涂层厚度测量和材料分析

带钨靶的微聚焦射线管;可选钼靶

4种可切换的滤波器

极其强大的硅漂移探测器,有效面积为20 mm²或50 mm²,可实现最高精度的薄膜检测

内部制造的多毛细管光学元件,最小的测量点可低至 10μm FWHM,测量时间短,强度高

数字脉冲处理器DPP+,用于提高计数率,减少测量时间或提高测量结果的重复性

分析从 Al(13) 到 U(92) 的元素,可提供氦气吹扫,可同时测量多达24种元素

高精度、可编程的 XY 平台,定位精度 < 5 µm,可实现的样品定位和自动图案识别,实现最佳的重复精度

典型的应用领域

在非常小的平面元件和结构上进行测量,如印刷电路板、触点或引线框架

测量电子和半导体工业的功能涂层

分析非常薄的涂层,例如,≤0.1微米的金/钯涂层

测定复杂的多涂层结构

自动测量,例如在质量控制中

菲希尔X射线测厚仪



磁性探头型号:FGAB1.3-150

内部测量探头带微处理芯片。弹性测量系统带红宝石尖。适合于直径 9mm以上的孔。手柄至测量头的长度为 150mm ,等于管子端部到测量点的 距离。

电缆长度: 1.5m  ( 5’)

测量范围:0 - 800um(NF/Fe)——0 - 32 mils

测量误差:-0-200um:1um——200-800um:0.5%

涡流探头型号:FAI3.3-150

内部测量探头带微处理芯片。弹性测量系统带红宝石尖。适合于直径 9mm以上的孔。手柄至测量头的长度为 150mm ,等于管子端部到测量点的 距离。

电缆长度: 1.5m  ( 5’)

测量范围:-0 - 800um(ISO/NF)——0 - 32 mils

测量误差:-0-200um:1um——200-800um:0.5%


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