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贵金属镀层厚度测量

贵金属镀层厚度测量

简要描述:
贵金属镀层厚度测量,Fischerscope X-ray。FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款应用广泛的能量色散型X 射线荧光光谱仪。

更新时间:2023-03-21

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厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,生物产业,石油,制药,综合

贵金属镀层厚度测量

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款应用广泛的能量色散型X 射线荧光光谱仪。它是从大众认可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了 Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。可测量的元素范围从氯 (17)到铀(92)

XDL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器

XDL系列仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控

Fischer X射线测厚仪典型的应用领域有:

测量大规模生产的电镀部件

测量薄镀层,例如装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层全自动测量,如测量印刷线路板

分析电镀溶液

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