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菲希尔X射线测厚仪Fischer

菲希尔X射线测厚仪Fischer

简要描述:
菲希尔X射线测厚仪Fischer,FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。

更新时间:2022-08-30

访问量:70

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域医疗卫生,食品,农业,地矿,建材

菲希尔X射线测厚仪Fischer

X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。

菲希尔X射线测厚仪XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时,样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点,可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统,简化了样品放置的过程,并可对测量点位置进行精确微调。

所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。

菲希尔X射线测厚仪XDV-SDD最多可同时测定从铝(13)到铀(92)中的24 种元素

菲希尔X射线测厚仪测量门向上开启的台式仪器,侧面开槽设计

马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台 

马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

菲希尔X射线测厚仪仪器配备带铍窗口的微聚焦钨管,三挡可调节高压,6个可切换的基本滤片。

菲希尔X射线测厚仪可按要求,提供额外的XDV 型产品更改和XDV

菲希尔X射线测厚仪Fischer

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