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菲希尔X射线测厚仪 FISCHER XDL230

菲希尔X射线测厚仪 FISCHER XDL230

简要描述:
菲希尔X射线测厚仪 FISCHER XDL230,Helmut Fischer(德国菲希尔)XRF X 射线荧光镀层测厚仪,无损测镀层厚度 + 材料成分分析,自上而下测量,适合异形件、电镀件、五金、PCB、航空配件等来料检验、品控、生产巡检

更新时间:2026-11-12

访问量:8

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,农林牧渔,制药/生物制药,综合,半导体

菲希尔X射线测厚仪 FISCHER XDL230

定位(同系列对比)

- XDL210:固定平台,Z 轴固定

- XDL220:固定平台,电动 Z 轴

- XDL230:手动 XY 平台 + 电动可编程 Z 轴(主推款)

- XDL240:全自动马达 XY 平台

核心规格

- 元素范围:Cl (17) ~ U (92),最多同时测 24 种元素、最多 23 层镀层

- XY 平台:手动,行程 ≥95×150 mm;工作台面很大 420×450 mm,C 型开槽,大板(PCB)可以外伸测量,不用放进腔体

- Z 轴:电动,行程≥140 mm,支持自动聚焦

- DCM 距离补偿技术:异形、凹陷、腔体零件,最深 80mm 还能准测(XDL230 主打卖点)

- X 光高压:30 / 40 / 50 kV 三档可调;标配 φ0.3mm 准直器

- 算法:基本参数法(FP 法),可无标样测试;带 MQ 匹配校验,防止选错程序

- 软件:WinFTM®(菲希尔标配,镀层 + 成分、报表、SPC)

- 标准:满足 DIN ISO 3497、ASTM B568.

- 重量:约 107kg


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