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MINITEST745测厚仪

MINITEST745测厚仪

简要描述:
MINITEST745测厚仪,SIDSP技术-全球新技术,智能数字化的涂层测厚探头
EPKJ测厚仪无锡骏展仪器模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势
什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的涂层测厚探头技术。

更新时间:2024-03-18

访问量:97

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌ElektroPhysik/德国EPK价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,综合

MINITEST745测厚仪

EPK测厚仪MINITEST745无锡骏展高精确度的SIDSP探头特征曲线
EPK测厚仪MINITEST745无锡骏展在生产过程中,EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准,但SIDSP探头不同:由于是全自动化过程,探头在50个点上进行校准,大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准,将测量错误降至低。

EPK测厚仪MINITEST745无锡骏展SIDSP探头对温度变化不敏感
在生产过程中,对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码,这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量,与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生!

EPK测厚仪MINITEST745无锡骏展SIDSP探头适应性强
需要快速测量几个点吗?只要开启快速测量模式,探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗?没问题,只要选择高精度模式,仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量,SIDSP都能完成您的选择!


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