相关文章
您现在的位置:首页 > 产品展示 > Elektrophysik测厚仪 > EPK测厚仪 > MINITEST740测厚仪
MINITEST740测厚仪

MINITEST740测厚仪

简要描述:
MINITEST740测厚仪,SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的奠定了新标准。

更新时间:2024-03-14

访问量:92

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌ElektroPhysik/德国EPK价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,综合

MINITEST740测厚仪

MiniTest 740 EPK涂层测厚仪无锡骏展仪器供应为什么选择SIDSP?
SIDSP探头具有抗干扰性
无锡骏展仪器供应MINITEST740任何与测量相关的信号,都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰,因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电,并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题,加长的电缆线同样具有抗干扰能力。

MiniTest 740 EPK涂层测厚仪 SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有重现性。将探头放在同一测量点测量几次,每次您都可以得到基本一样的结果,再次证明了SIDSP探头的优良性能。

MiniTest 740 EPK涂层测厚仪SIDSP探头特征曲线
在生产过程中,EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准,但SIDSP探头不同:由于是全自动化过程,探头在50个点上进行校准,大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准,将测量错误降至低。


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7