MINITEST740测厚仪

简要描述：

MINITEST740测厚仪，SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的奠定了新标准。

更新时间：2024-03-14

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厂商性质：经销商

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产品介绍：

品牌	ElektroPhysik/德国EPK	价格区间	面议
产地类别	进口	应用领域	环保,综合

MINITEST740测厚仪

MiniTest 740 EPK涂层测厚仪无锡骏展仪器供应为什么选择SIDSP？
SIDSP探头具有抗干扰性
无锡骏展仪器供应MINITEST740任何与测量相关的信号，都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰，因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电，并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长的电缆线同样具有抗干扰能力。

MiniTest 740 EPK涂层测厚仪 SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的优良性能。

MiniTest 740 EPK涂层测厚仪SIDSP探头特征曲线
在生产过程中，EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准，但SIDSP探头不同：由于是全自动化过程，探头在50个点上进行校准，大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准，将测量错误降至低。