FISCHER涂层测厚仪

FISCHER涂层测厚仪

满足复杂需求的X射线荧光分析

FISCHERSCOPE®X射线 XDAL®是 XDL系列中X射线荧光测量仪器。 和它的“小兄弟"一样，它是从上到下方向测量的，这使得测试形状奇怪的样品也变得轻松便捷，为了优化您的任务的测量条件，配有可互换的准直器和过滤器作为标准配置。

Fischer X射线测厚仪对测量任务的要求越高，探测器的类型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射线 XDAL提供了3种不同的半导体探测器。

硅PIN二极管是一种中档检测器，非常适合在相对较大的测量区域内测量多个元素。配备PIN的XDAL通常用于检查硬质材料涂层。

Fischer X射线测厚仪与硅PIN二极管相比，高质量的硅漂移检测器（SDD）具备更好的能量分辨率。如此配备的XDAL光谱仪可用于解决电子行业中的复杂测量任务：例如，测量薄合金层，或非常相似的元素（如金和铂）的材料分析。这款值得信赖的XRF仪器可用于ENIG和ENEPIG应用的质量控制

Fischer X射线测厚仪对于特别棘手的挑战，Fischer还提供带有超大探测器表面的SDD。该探测器的优势在于它能够可靠地测量纳米级的镀层，并进行痕量分析。使用这些XDAL设备，您可以测试用于高可靠性应用的焊料中的铅含量，从而避免锡须。