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泰勒霍普森粗糙度仪|TAYLOR

泰勒霍普森粗糙度仪|TAYLOR

简要描述:
泰勒霍普森粗糙度仪|TAYLOR,泰勒.霍普森(Taylor Hobson)Surtronic S100 系列有两种型号可供选择: SURTRONIC S116粗糙度仪是标准产品,S128则能够提供提高测量范围和分析能力。

更新时间:2022-12-01

访问量:107

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域环保,生物产业,石油,制药,综合

泰勒霍普森粗糙度仪|TAYLOR

泰勒霍普森粗糙度仪技术指标:

泰勒霍普森粗糙度仪测量范围:200 um 100 um 10 um 

泰勒霍普森粗糙度仪分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm 

泰勒霍普森粗糙度仪底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm 

重复精度 (Ra) :1%测试值+底噪

传感器原:电感

测量力:150-300mg

测针针尖半径:标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式:滑动扫描

校准:

自动软件校准   标准:ISO4287

泰勒霍普森粗糙度仪测试参数:

泰勒霍普森粗糙度仪三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm

泰勒霍普森粗糙度仪二个滤波器:2CR、Gaussian

评定长度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

zui大行程:17.5mm

测试速度:

测试速度:1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数:

执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 :R3z (Daimler Benz)

测试单位:um/uin

泰勒霍普森粗糙度仪|TAYLOR

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