菲希尔|Fischer测厚仪

菲希尔|Fischer测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 菲希尔X射线测厚仪系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。菲希尔X射线测厚仪这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。

菲希尔X射线测厚仪XDLM 231 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

菲希尔X射线测厚仪XDLM 232 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

菲希尔X射线测厚仪XDLM 237 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。

菲希尔X射线测厚仪XDLM系列仪器带有4个可切换准直器，3种可切换的基本滤片，采用比例接收器，测量距离为0-80mm。

菲希尔测厚仪Fischer代理涂层测厚仪使用高分辨率的CCD彩色摄像头

仪器重量100kg-120kg

仪器使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度为≤95%，无结露

菲希尔|Fischer测厚仪