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SURTRONIC S128粗糙度仪、泰勒

SURTRONIC S128粗糙度仪、泰勒

简要描述:
SURTRONIC S128粗糙度仪、泰勒,泰勒霍普森。rp.Rp:表示大轮廓波峰高度。在取样长度内,大的轮廓高峰顶线和低谷底线之间的距离。当分析一个以上的取样长度时,Rp是每个样品的单个Rp值的平均值。

更新时间:2024-07-09

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厂商性质:经销商

生产地址:

品牌TaylorHobson/英国泰勒霍普森产地类别进口
应用领域环保,制药,综合

SURTRONIC S128粗糙度仪、泰勒

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S128

Ra是常用的粗糙度参数。RA:表示轮廓算术平均偏差。在取样长度内,沿测量方向(Y方向)的轮廓线上的点与基准线之间距离值的算术平均值。

rp.Rp:表示大轮廓波峰高度。在取样长度内,大的轮廓高峰顶线和低谷底线之间的距离。当分析一个以上的取样长度时,Rp是每个样品的单个Rp值的平均值。

RSm。rsm是在取样长度内测量的平均线处轮廓峰之间的平均间距。(轮廓峰是轮廓的高点,位于平均线的上下交叉点之间)。
RZ。Rz=Rp+Rv,是分析一个以上采样长度时,一个采样长度内剖面的大峰谷高度Rz是每个采样长度的单个Rz值的平均值。
Rz1大值。在取样长度范围内,剖面的大峰谷高度。在多个采样长度上测量时,取大的单个采样长度值。过去也被称为Rymax、Ry、Rmax或RTI


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