SURTRONIC S116泰勒霍普森

SURTRONIC S116泰勒霍普森

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116技术指标：

测量范围：200um100um10um

分辨率：100nm20nm10nm

底噪(Ra)：250nm150nm100nm

重复精度(Ra)：1%测试值+底噪

传感器原：电感

测量力：150-300mg

测针针尖半径：标配5μm(200μin)可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式：滑动扫描

泰勒霍普森粗糙度仪校准：

自动软件校准标准：ISO4287

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116测试参数：

无锡骏展仪器供应泰勒霍普森粗糙度仪三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

无锡骏展仪器供应泰勒霍普森粗糙度仪二个滤波器：2CR、Gaussian

无锡骏展仪器供应泰勒霍普森粗糙度仪评定长度：0.25mm-12.5mm(0.01in-0.49in)可选

大行程：17.5mm

测试速度：

测试速度：1mm/sec(0.04in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数：

执行标准：ISO4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1,JIS0601,N31007

ISO标准可以测量12个参数：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,Rpc,RSm,Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rdq,RSm,Rpm,Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,RSm,RzJIS,Rc,Rku,Rdc

其他：R3z(DaimlerBenz)

测试单位：um/uin