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SURTRONIC S116泰勒霍普森

SURTRONIC S116泰勒霍普森

简要描述:
SURTRONIC S116泰勒霍普森,泰勒.霍普森(Taylor Hobson)Surtronic S100 系列有两种型号可供选择: SURTRONIC S116粗糙度仪是标准产品,S128则能够提供提高测量范围和分析能力。

更新时间:2024-03-12

访问量:190

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌TaylorHobson/英国泰勒霍普森产地类别进口
应用领域环保,生物产业,制药,综合

SURTRONIC S116泰勒霍普森

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116技术指标:

测量范围:200um100um10um

分辨率:100nm20nm10nm

底噪(Ra):250nm150nm100nm

重复精度(Ra):1%测试值+底噪

传感器原:电感

测量力:150-300mg

测针针尖半径:标配5μm(200μin)可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式:滑动扫描

泰勒霍普森粗糙度仪校准:

自动软件校准标准:ISO4287

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116测试参数:

无锡骏展仪器供应泰勒霍普森粗糙度仪三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm

无锡骏展仪器供应泰勒霍普森粗糙度仪二个滤波器:2CR、Gaussian

无锡骏展仪器供应泰勒霍普森粗糙度仪评定长度:0.25mm-12.5mm(0.01in-0.49in)可选

大行程:17.5mm

测试速度:

测试速度:1mm/sec(0.04in/sec)

回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数:

执行标准:ISO4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1,JIS0601,N31007

ISO标准可以测量12个参数:Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,Rpc,RSm,Rz1max

ASME标准可以测量11个参数:Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rdq,RSm,Rpm,Rda

JIS标准可以测量14个参数:Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,RSm,RzJIS,Rc,Rku,Rdc

其他:R3z(DaimlerBenz)

测试单位:um/uin


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