相关文章
您现在的位置:首页 > 产品展示 > 泰勒霍普森TAYLOR HOBSON > 泰勒霍普森粗糙度仪 > 泰勒霍普森|粗糙度仪SURTRONIC DUO
泰勒霍普森|粗糙度仪SURTRONIC DUO

泰勒霍普森|粗糙度仪SURTRONIC DUO

简要描述:
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO,快速测量在仪器底端接触工件瞬间,即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

更新时间:2024-02-23

访问量:173

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌TaylorHobson/英国泰勒霍普森产地类别进口
应用领域环保,制药,综合

泰勒霍普森粗糙度仪SURTONIC DUO

SURTRONIC DUO 粗糙度仪仪器特点:

  1. 泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO快速测量在仪器底端接触工件瞬间,即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

  2. 泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO携带方便DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

  3. 经外接口操作者可在距离被测工件1m处操作测量。

  4. 校准方便DUO具有自身校准标准,可预设标准值,通过LCD显示出来。

  5. 测针保护不用时,设“park"位置可全面保护测针。

  6. 人体工程学设计

泰勒霍普森粗糙度仪

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO技术指标:

  1. Ra(算术平均偏差,以前称为CLA或AA)

  2. Rz(平均峰谷高度)

  3. Rv(采样长度内轮廓线以下的大高度)

  4. Rp(采样长度内轮廓线以上的大高度)

  5. Rt(剖面大峰谷高度)

  6. Rz1max(任何采样长度内的大峰到谷)

  7. 偏度-关于平均线的轮廓对称度的测量

  8. Rq(轮廓线与平均线的偏差值的均方根均方根(rms))

  9. Rku(峰度-表面轮廓锐度的测量)


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7