| 品牌 | TaylorHobson/英国泰勒霍普森 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 环保,制药,综合 |
泰勒霍普森粗糙度仪SURTONIC DUO
SURTRONIC DUO 粗糙度仪仪器特点：
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO携带方便DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。
经外接口操作者可在距离被测工件1m处操作测量。
校准方便DUO具有自身校准标准，可预设标准值，通过LCD显示出来。
测针保护不用时，设“park"位置可全面保护测针。
人体工程学设计
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO技术指标：
Ra(算术平均偏差，以前称为CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采样长度内轮廓线以下的大高度)
Rp(采样长度内轮廓线以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采样长度内的大峰到谷)
偏度-关于平均线的轮廓对称度的测量
Rq(轮廓线与平均线的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面轮廓锐度的测量)
苏公网安备32021402002648
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